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| 高低溫交變試驗(yàn)箱的適用性 |
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| 時間：2012-12-22 8:23:30 |
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一般情況下產(chǎn)品及部件的性能一般受其內(nèi)部溫度的影響與制約，而內(nèi)部溫度則決定于其自身所產(chǎn)生的熱量和周圍的環(huán)境條件。不論何時，當(dāng)產(chǎn)品及其周圍環(huán)境形成的系統(tǒng)中存在溫度梯度時，則其間就存在熱傳輸過程。
高低溫交變試驗(yàn)箱包括低溫和高溫試驗(yàn)，帶溫度突變試驗(yàn)和溫度漸變試驗(yàn)，散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品（后者無人工冷卻均可適用）
高低溫交變試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗(yàn)。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。 |
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